Г 55 Глудкин, Олег Павлович. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [Текст] : учебное пособие / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия, 1980. - 360 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 355 (19 назв.). - 20 000 экз.. - (В пер.) : 1.00 р. Содержание: Элементы теории и системы организации испытаний микроэлементов и интегральных микросхем Электрические параметры МЭ и ИМ и методы их измерения Методы неразрушающего контроля параметров МЭ и ЭМ в процессе их изготовления и испытаний Климатические испытания МЭ и ИМ Механические испытания МЭ и ИМ Радиационные испытания МЭ и ИМ Методы испытаний МЭ и ИМ на надежность и сохраняемость Методы прогнозирования надежности МЭ и ИМ Обработка экспериментальных данных Рубрики: радиоэлектронная аппаратура (РЭА)--учебные пособия радіоелектронна апаратура (РЕА)--навчальні посібники Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич ~Экземпляры всего: 1 АБ (1) Свободны: АБ (1) |