Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 6П2.151/Б 28 Автор(ы) : Батавин, Виталий Васильевич, Концевой, Юлий Абрамович, Федорович, Юрий Вячеславович Заглавие : Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур Выходные данные : Москва: Радио и связь, 1985 Колич.характеристики :264 с.: рис., табл.; 22 см Серия: Измерения в электронике Примечания : Библиография: с.251-262 Цена : 1.10, р. УДК : 6П2.151 Предметные рубрики: Полупроводники-- Параметры-- Измерение Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые материалы--эпитаксиальные слои--электрофизические параметры--структурные параметры--контрольно-измерительные приборы Экземпляры :ТО(1) Свободны : ТО(1) Доп.точки доступа: Концевой, Юлий Абрамович; Федорович, Юрий Вячеславович