Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 6Ф2.1/Г 55 Автор(ы) : Глудкин, Олег Павлович, Черняев, Владимир Николаевич Заглавие : Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учебное пособие Выходные данные : Москва: Энергия, 1980 Колич.характеристики :360 с.: ил.; 20 см. Примечания : Библиогр.: с. 355 (19 назв.) Цена : 1.00 р. Предметные рубрики: радиоэлектронная аппаратура (РЭА)-- учебные пособия радіоелектронна апаратура (РЕА)-- навчальні посібники Содержание : Элементы теории и системы организации испытаний микроэлементов и интегральных микросхем ; Электрические параметры МЭ и ИМ и методы их измерения ; Методы неразрушающего контроля параметров МЭ и ЭМ в процессе их изготовления и испытаний ; Климатические испытания МЭ и ИМ ; Механические испытания МЭ и ИМ ; Радиационные испытания МЭ и ИМ ; Методы испытаний МЭ и ИМ на надежность и сохраняемость ; Методы прогнозирования надежности МЭ и ИМ ; Обработка экспериментальных данных Экземпляры :АБ(1) Свободны : АБ(1) Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич