Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 6Ф2.1/Г 55 Автор(ы) : Глудкин, Олег Павлович, Черняев, Владимир Николаевич Заглавие : Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учеб. пособие для вузов Выходные данные : Москва: Энергия, 1980 Колич.характеристики :360 с.: рис., табл.; 20 см. Примечания : Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357 Цена : 1.00, 1.00, р. Предметные рубрики: Микроэлектроника-- Радиовещание Географич. рубрики: Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): надежность микроэлектроники--параметры интегральных схем--контроль интегральных схем--испытания интегральных схем--обработка экспериментальных данных--методы прогнозирования--радиационная стойкость--математическое ожидание--точность измерительных средств Аннотация: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Экземпляры :ТО(1) Свободны : ТО(1) Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич