Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Номер ЧБ
 

Вход/Регистрация через ЕСИА

Базы данных


Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска
Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=ПЛЕНОК<.>
Общее количество найденных документов : 54
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-54 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22.379/П 53
Заглавие : Получение наноструктурированных пленок и слоев полупроводников из газовой фазы : Учебно-методическое пособие. Лабораторный практикум.
Выходные данные : Махачкала: ДГУ, 2012
Колич.характеристики :52 с. ; 20см
Коллективы : Министерство образования и науки России. Дагестанский государственный университет
Примечания : о.э.
Цена : 50 р.
ББК : 22.379
Предметные рубрики: Физика
Экземпляры : всего : КР(2)
Свободны : КР(2)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 31.2/Г12
Автор(ы) : Гаврилин В. В.
Заглавие : Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами : научное издание
Выходные данные : Рига: Зинатне, 1991
Колич.характеристики :206с: ил.; 23см
Цена : 2р., р.
ББК : 31.2
Предметные рубрики: Электроэнергетика. Электротехника
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 32.844.1/М59
Заглавие : Микроструктурирование тонких пленок : научное издание
Выходные данные : Москва: Наука, 1991
Колич.характеристики :112с.: ил.; 25см
ISBN, Цена 5-02-006817-9: 6р.50, р.
ББК : 32.844.1
Предметные рубрики: Радиоаппаратура ( радиоэлектронная аппаратура)
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 34.206/С 91
Заглавие : Физическая химия пассивирующих пленок на железе : научное издание
Выходные данные : Б.м., 1989
Колич.характеристики :320 с.: ил., табл.; 22 см.
Примечания : Библиогр.: 304-319 с.
ISBN (в пер.), Цена 5-7245-0327-1: 4р. 60к. р.
ББК : 34.206
Предметные рубрики: Металловедение
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.1/К 61
Автор(ы) : Колотов О.С., Погожев В.А., Телеснин Р.В.
Заглавие : Методы и аппаратура для исследования импульсных свойств тонких магнитных пленок
Выходные данные : Москва: издательство Моск. университета, 1970
Колич.характеристики :191 с.: ил.; 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 191 (46 назв.)
Цена : 0.60, р.
УДК : 6П2.1
Предметные рубрики: Электротехника
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Продолжающееся издание
Шифр издания : 6П3.2/П 84
Автор(ы) :
Заглавие : Процессы роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок: материалы симпозиума : в 2 ч./ Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников, Ин-т неорган. химии, Всесоюзный симпозиум по процессам роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок (3 ; 1972 ; Новосибирск); отв. ред.: Л. Н. Александров, Ф. А. Кузнецов. ч. 2
Выходные данные : Новосибирск: Наука. Сиб. отд-ние, 1975
Колич.характеристики :438 с.: ил.
Коллективы : Академия наук СССР, Институт физики полупроводников, Институт неорганической химии, Всесоюзный симпозиум по процессам роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 3.02, 3.02,
ББК : 6П3.2
Предметные рубрики: Полупроводниковые приборы-- Металлургия цветных металлов
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 621.399.18/Р 78
Автор(ы) :
Заглавие : Рост и легирование полупроводниковых кристаллов и пленок: в 2 ч./ Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Л. Н. Александров. Ч.2
Выходные данные : Новосибирск: Наука. Сиб. отд-ние, 1977
Колич.характеристики :357 с.: ил.
Коллективы : Академия наук СССР, Институт физики полупроводников
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 3.60, 3.60,
Предметные рубрики: полупроводниковые приборы
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П4.6/Л 27
Автор(ы) : Латышев В.Н.
Заглавие : Повышение эффективности СОЖ
Выходные данные : Москва: Машиностроение, 1975
Колич.характеристики :89 с.: граф., рис., схем, табл.; 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 87-88
Цена : 0.31 р.
Предметные рубрики: Резание металлов
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.151/Б 73
Автор(ы) : Богдан, Галина Ивановна, Некрасов, Михаил Макарович
Заглавие : Пленочная электроника и полупроводниковые интегральные микросхемы : [учебное пособие для вузов]
Выходные данные : Киев: Вища школа, 1979
Колич.характеристики :208 с.: рис., табл.; 22 см
Примечания : Библиография: с. 205-206
Цена : 0.55, р.
УДК : 6П2.151
Предметные рубрики: Электронные приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронные схемы--надежность--изготовление микросхем--интегральные транзисторы--диоды--диффузные резисторы--диффузные конденсаторы--биполярные структуры--интегральные логические схемы--аналоговые интегральные микросхемы--пленочные элементы--диэлектрические пленки--металлические пленки--криотронные элементы--микроэлектроника--пьезоэлектроника--поверхностные волны
Аннотация: Вопросы физики твердого тела, расчета и технологии интегральных элементов и схем на основе тонких и толстых пленок.
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.151/Б 95
Автор(ы) : Быстров, Юрий Александрович, Колгин, Евгений Алексеевич, Котлецов, Борис Николаевич
Заглавие : Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве : материал технической информации
Выходные данные : Москва: Радио и связь, 1988
Колич.характеристики :167 с.: ил.; 21 см
Примечания : Библиогр.: с. 162 - 166
ISBN, Цена 5-256-00006-3: 0.65, 0.65,
УДК : 6П2.151
Предметные рубрики: радиоаппаратура (радиоэлектронная аппаратура)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронные схемы интегральные--размеры--технический контроль--телевизионные методы контроля--дифракционные методы контроля--качество полупроводниковых пластин--нанесение пленок--оптическая спектрометрия
Аннотация: Методы и средства измерения линейных размеров, толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем.
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-54 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)