Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Номер ЧБ
 

Вход/Регистрация через ЕСИА

Базы данных


Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=ПОДЛОЖКИ<.>
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.151/Л 64
Автор(ы) : Литовченко, Владимир Григорьевич, Горбань, Анатолий Петрович
Заглавие : Основы физики микроэлектронных систем металл - диэлектрик - полупроводник : научное издание
Выходные данные : Киев: Наукова думка, 1978
Колич.характеристики :316 с.: ил.; 23см
Коллективы : Академия наук Украинской ССР. Институт полупроводников
Примечания : Список лит.: с. 286 - 313
Цена : 3.30, р.
УДК : 6П2.151
Предметные рубрики: Радиоаппаратура (радиоэлектронная аппаратура)-- Микроэлектронные схемы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мдп-структуры
Содержание : Нанесение диэлектрических пленок на полупроводниковые подложки ; Методы измерения параметров структур МДП ; Исследование структуры и электрических свойств поверхностных диэлектрических слоев в системах ДП ; Кристаллоструктура и электрические свойства границы раздела двухслойной системы диэлектрик - полупроводник ; Генерационные явления и процессы переноса в структурах МДП ; Влияние освещения на характеристики системы МДП. Фотоемкостный эффект ; Гетерогенность электрофизических характеристик системы МДП и методы ее определения ; Приборы с зарядовой связью ; Приборные и интегральные системы, использующие структуры МДП и ДП
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.151(083)/Г 74
Автор(ы) : Готра, Зенон Юрьевич
Заглавие : Справочник по технологии микроэлектронных устройств
Выходные данные : Львов: Каменяр, 1986
Колич.характеристики :286 с.: граф., схемы, табл.; 20см
Примечания : Библиография: с. 284-285 (22)
Цена : 1, р.
УДК : 6П2.151(083)
Предметные рубрики: Электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые материалы--полупроводниковые подложки--микроэлектронные устройства--фотошаблоны--полупроводники--эпитаксия
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П7.7/Л 55
Автор(ы) : Лившиц М.Л.
Заглавие : Технический анализ и контроль производства лаков и красок : Учеб. пособие для сред. проф. обр. . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : Москва: Высш. шк., 1980
Колич.характеристики :216 с.: рис., табл.; 21 см
Примечания : Библиогр.: с.212-213
Цена : 0.45, 0.45, р.
Предметные рубрики: Лакокрасочное производство
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сырье--пигменты--наполнители--пластификаторы--отбор--проб--растительные--масла--олифы--заменители--смолы--целлюлоза--растворители--разбавители--качество--вязкость--пленки--подложки--методы--испытания--техническая--вода
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)