Национальная библиотека Республики Дагестан им. Р. Гамзатова

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска

Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: <.>K=надежность микроэлектроники<.>

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6Ф2.1/Г 55
Автор(ы) : Глудкин, Олег Павлович, Черняев, Владимир Николаевич
Заглавие : Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учеб. пособие для вузов
Выходные данные : Москва: Энергия, 1980
Колич.характеристики :360 с.: рис., табл.; 20 см.
Примечания : Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357
Цена : 1.00, 1.00, р.
Предметные рубрики: Микроэлектроника-- Радиовещание
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): надежность микроэлектроники--параметры интегральных схем--контроль интегральных схем--испытания интегральных схем--обработка экспериментальных данных--методы прогнозирования--радиационная стойкость--математическое ожидание--точность измерительных средств
Аннотация: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов.
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)