Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Номер ЧБ
 

Вход/Регистрация через ЕСИА

Базы данных


Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=фотолітографія<.>
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6Ф2.1/Д 36
Автор(ы) : Деркач, Виталий Павлович, Кияшко, Галина Федоровна, Кухарчук, Маргарита Сергеевна
Заглавие : Методы повышения параметров БИС
Выходные данные : Киев: Вища шк., 1986
Колич.характеристики :152 с.: рис.; 20 см.
Примечания : Лит.: с. 143-152
Цена : 1.40, 1.40, р.
Предметные рубрики: Микросхемы-- Радиовещание
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биполярные интегральные схемы--біполярні інтегральні схеми--оптоэлектронные интегральные структуры--оптоелектронні інтегральні структури--акустоэлектронные интегральные структури--акустоелектронні інтегральні структури--фотолитография--фотолітографія--электронолитография--електронолітографія--рентгенолитография--рентгенолітографія--ионолитография--іонолітографія--вакуумно-плазменная микрообработка--вакумно-плазмова мікрообробка--ионное внедрение--іонне впровадження
Аннотация: Принципы работы, схемные и конструктивные особенности больших и сверхбольших интегральных микросхем.
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.151/К 93
Автор(ы) : Курносов, Анатолий Иванович
Заглавие : Материалы для полупроводниковых приборов и интегральных схем : учеб. пособие для сред. проф.-техн. училищ
Выходные данные : Москва.: Высшая школа., 1975
Колич.характеристики :342 с.: ил., табл.; 23см
Цена : 0.75, р.
УДК : 6П2.151
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковые приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): напівпровідникові матеріали--полупроводниковые материалы--напівпровідникові епітаксиальні структури--полупроводниковые эпитаксиальные структуры--абразивні матеріали--абразивные материалы--алмазні порошки--алмазные порошки--полірувальні матеріали--полировальные материалы--хімічні матеріали--химические материалы--фотолітографія--фотолитография--фоторезистори--фоторезисторы--фотошаблони--дифузанти--диффузанты--електродні матеріали--электродные материалы--компаунди--епоксидні смоли--эпоксидные смолы--припої--припои--асбестові матеріали--асбестовые материалы--графіт--графит--гази--газы--електроліти--электролиты--провідність напівпровідникових матеріалів--проводимость полупроводниковых материалов--контроль якості матеріалів--контроль качества материалов--кінематична в'язкість--кинематическая вязкость
Аннотация: Электрофизические свойства материалов, используемых при производстве полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 6П2.151/К 93
Автор(ы) : Курносов, Анатолий Иванович
Заглавие : Материалы для полупроводниковых приборов и интегральных микросхем : учеб. пособие для сред. проф.-техн. училищ . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : Москва: Высшая школа, 1980
Колич.характеристики :327 с.: ил., табл.; 23см
Цена : 0.80, р.
УДК : 6П2.151
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковые приборы-- микросхемы
Географич. рубрики:
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): напівпровідникові матеріали--полупроводниковые материалы--напівпровідникові епітаксиальні структури--полупроводниковые эпитаксиальные структуры--абразивні матеріали--абразивные материалы--алмазні порошки--алмазные порошки--полірувальні матеріали--полировальные материалы--хімічні матеріали--химические материалы--фотолітографія--фотолитография--фоторезистори--фоторезисторы--фотошаблони--дифузанти--диффузанты--електродні матеріали--электродные материалы--компаунди--епоксидні смоли--эпоксидные смолы--припої--припои--асбестові матеріали--асбестовые материалы--графіт--графит--гази--газы--електроліти--электролиты--провідність напівпровідникових матеріалів--проводимость полупроводниковых материалов--контроль якості матеріалів--контроль качества материалов--кінематична в'язкість--кинематическая вязкость
Аннотация: Электрофизические свойства материалов, используемых при производстве полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.
Экземпляры :ТО(1)
Свободны : ТО(1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)