Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Номер ЧБ
 

Вход/Регистрация через ЕСИА

Базы данных


Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска
Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=ПЛЕНОК<.>
Общее количество найденных документов : 54
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-54 
1.
22.379
П 53

   
    Получение наноструктурированных пленок и слоев полупроводников из газовой фазы [Текст] : Учебно-методическое пособие. Лабораторный практикум. / Министерство образования и науки России, Дагестанский государственный университет ; составитель А. М. Исмаилов [и др.]. - Махачкала : ДГУ, 2012. - 52 с. ; 20см. - 100 экз.. - 50 р.
о.э.
ББК 22.379
Рубрики: Физика


Доп.точки доступа:
Исмаилов, А.М. \сост.\; Рабаданов, Р.А. \сост.\; Мурлиева, Ж.Х. \сост.\; Шапиев, И.М. \сост.\; Министерство образования и науки России. Дагестанский государственный университет
~Экземпляры всего: 2
КР (2)
Свободны: КР (2)
Найти похожие
2.
31.2
Г12

    Гаврилин, В. В.
    Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами [Текст] : научное издание / В. В. Гаврилин ; Латв. АН. Физико-энергетич. ин-т. - Рига : Зинатне, 1991. - 206с : ил. ; 23см. - 1000 экз.. - (в пер.) : 2р. р.
ББК 31.2
Рубрики: Электроэнергетика. Электротехника

~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
3.
32.844.1
М59

   
    Микроструктурирование тонких пленок [Текст] : научное издание / ред. А. А. Орликовский. - Москва : Наука, 1991. - 112с. : ил. ; 25см. - 635 экз.. - ISBN 5-02-006817-9 : 6р.50 р.
ББК 32.844.1
Рубрики: Радиоаппаратура ( радиоэлектронная аппаратура)


Доп.точки доступа:
Орликовский, Александр Александрович \ред.\
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
4.
34.206
С 91

   
    Физическая химия пассивирующих пленок на железе [Текст] : научное издание. - Ленинград : [б. и.], 1989. - 320 с. : ил., табл. ; 22 см. - Библиогр.: 304-319 с. . - 2380 экз.. - ISBN 5-7245-0327-1 (в пер.) : 4р. 60к. р.
ББК 34.206
Рубрики: Металловедение

~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
5.
6П2.1
К 61

    Колотов, О. С.
    Методы и аппаратура для исследования импульсных свойств тонких магнитных пленок [Текст] / О. С. Колотов, В. А. Погожев, Р. В. Телеснин. - Москва : издательство Моск. университета, 1970. - 191 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 191 (46 назв.). - 3 000 экз.. - (в пер.) : 0.60 р.
УДК
6П2.1
Рубрики: Электротехника


Доп.точки доступа:
Погожев, В.А.; Телеснин, Р.В.
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
6.
6П3.2
П 84

    Процессы роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок [Текст] : материалы симпозиума : в 2 ч. / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников, Ин-т неорган. химии, Всесоюзный симпозиум по процессам роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок (3 ; 1972 ; Новосибирск); отв. ред.: Л. Н. Александров, Ф. А. Кузнецов. - Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние, 1975 - .
   ч. 2. - 1975. - 438 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - (в пер.) : 3.02 р.
ББК 6П3.2
Рубрики: Полупроводниковые приборы--Металлургия цветных металлов
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- кристаллы -- полупроводниковые пленки


Доп.точки доступа:
Александров, Леонид Наумович \отв. ред.\; Кузнецов, Ф. А. \отв. ред.\; Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводниковИнститут неорганической химии; Всесоюзный симпозиум по процессам роста и синтеза полупроводниковых кристаллов и пленок(3 ; 1972 ; Новосибирск)
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
7.
   621.399.18
   Р 78

    Рост и легирование полупроводниковых кристаллов и пленок [Текст] : в 2 ч. / Акад. наук СССР, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников; отв. ред. Л. Н. Александров. - Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние. - 26 см.
   Ч.2 / отв. редактор Л. П. Александр. - 1977. - 357 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - (в пер.) : 3.60 р.
РУБ 32.853.2
Рубрики: полупроводниковые приборы
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- полупроводниковые пленки -- получение


Доп.точки доступа:
Александров, Леонид Наумович \отв. ред.\; Александр, Л.П. \отв. редактор.\; Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
8.
6П4.6
Л 27

    Латышев, В. Н.
    Повышение эффективности СОЖ [Текст] / В.Н. Латышев. - Москва : Машиностроение, 1975. - 89 с. : граф., рис., схем, табл. ; 22 см. - Библиогр.: с. 87-88. - 10000 экз.. - 0.31 р.
РУБ 6П4.6
Рубрики: Резание металлов
Кл.слова (ненормированные):
РЕЗАНИЕ МЕТАЛЛОВ -- ЗАЩИТНОЕ -- ДЕЙСТВИЕ -- СМАЗОЧНЫХ -- ПЛЕНОК -- ИЗНОС -- СТОЙКОСТЬ -- КАЧЕСТВО ПОВЕРХНОСТЕЙ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ -- ИСПЫТАНИЯ -- РАСПЫЛЕНное -- СОСТОЯНИЕ

~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
9.
6П2.151
Б 73

    Богдан, Галина Ивановна.
    Пленочная электроника и полупроводниковые интегральные микросхемы [Текст] : [учебное пособие для вузов] / Г. И. Богдан, М. М. Некрасов. - Киев : Вища школа, 1979. - 208 с. : рис., табл. ; 22 см. - Библиография: с. 205-206. - 9 000 экз.. - (в пер.) : 0.55 р.
УДК
6П2.151
Рубрики: Электронные приборы
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные схемы -- надежность -- изготовление микросхем -- интегральные транзисторы -- диоды -- диффузные резисторы -- диффузные конденсаторы -- биполярные структуры -- интегральные логические схемы -- аналоговые интегральные микросхемы -- пленочные элементы -- диэлектрические пленки -- металлические пленки -- криотронные элементы -- микроэлектроника -- пьезоэлектроника -- поверхностные волны
Аннотация: Вопросы физики твердого тела, расчета и технологии интегральных элементов и схем на основе тонких и толстых пленок.


Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
10.
6П2.151
Б 95

    Быстров, Юрий Александрович.
    Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [Текст] : материал технической информации / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - Москва : Радио и связь, 1988. - 167 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 162 - 166. - 9 000 экз.. - ISBN 5-256-00006-3 : 0.65 р.
УДК
6П2.151
Рубрики: радиоаппаратура (радиоэлектронная аппаратура)
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронные схемы интегральные -- размеры -- технический контроль -- телевизионные методы контроля -- дифракционные методы контроля -- качество полупроводниковых пластин -- нанесение пленок -- оптическая спектрометрия
Аннотация: Методы и средства измерения линейных размеров, толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем.


Доп.точки доступа:
Колгин, Евгений Алексеевич; Котлецов, Борис Николаевич
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-54 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)