Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Номер ЧБ
 

Вход/Регистрация через ЕСИА

Базы данных


Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска
Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан
Область поиска
в найденном
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=СЛОЕВ<.>
Общее количество найденных документов : 44
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-44 
1.
5
М17

    Максудова, Сапият Магомедовна.
    Азотистый обмен различных слоев кожи при псориазе [Текст] : Автореферат / С. М. Максудова. - Махачкала : [б. и.], 1975. - 23 с. - Б. ц.
ББК 5
Рубрики: Медицина

~Экземпляры всего: 1
КР (1)
Свободны: КР (1)
Найти похожие
2.
23
Г22

    Гасанов, Ниматула Гаджиевич.
    Исследование роста, совершенства структуры и некоторых электро-физических свойств гетероэпитаксиальных слоев селенида кадмия [Текст] : Автореферат / Н. Г. Гасанов. - Махачкала : [б. и.], 1974. - 20 с. - Б. ц.
ББК 23
Рубрики: Физика

~Экземпляры всего: 1
КР (1)
Свободны: КР (1)
Найти похожие
3.
34.413
Б 43

    Белый, А. В.
    Структура и методы формирования износостойких поверхностных слоев [Текст] / А. В. Белый, Г. Д. Карпенко, Н. К. Мышкин. - М : Машиностроение, 1991. - 208 с. : ил. ; 20.5 см. - Библиогр. в конце ст. (219 назв.). - 3200 экз.. - ISBN 5-217-01411-3 : 3 р.
ББК 34.413
Рубрики: Теоретические основы машиностроения


Доп.точки доступа:
Карпенко, Г.Д.; Мышкин, Н.К.
~Экземпляры всего: 2
ТО (2)
Свободны: ТО (2)
Найти похожие
4.
34.2
Ф 50

   
    Физика дефектов поверхностных слоев материалов [Текст] : (сборник научных трудов) / АН СССР, Физ.-техн ин-т им. А. Ф. Иоффе ; ред.-сост. А. Е. Романов. - Ленинград : ФТИ, 1989. - 215 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр. в конце докл. - 500 экз.. - 0.95 р.
ББК 34.2
Рубрики: Металлы--Поверхностные слои--Дефекты--Сборники


Доп.точки доступа:
Романов, А. Е. \ред.\; АН СССР. Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
5.
6П4.6
И 97

    Ишуткин, В. И.
    Технологическая надежность системы СПИД [Текст] / В.И. Ишуткин. - Москва : Машиностроение, 1973. - 127 с. : ил ; 20 см. - Библиогр.: с. 125-126. - 14500 экз.. - 0.35 р.
РУБ 6П4.6
Рубрики: Металлорежущие станки--надежность
Кл.слова (ненормированные):
ПОКАЗАТЕЛИ -- ТОЧНОСТЬ ОБРАБОТКИ -- НАСТРОЙКА -- СТАНКОВ -- ОПТИМИЗАЦИЯ -- РЕЖИМ РЕЗАНИЯ -- КАЧЕСТВО ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЕВ -- ДЕТАЛИ

~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
6.
6П3.2
И 88

   
    Исследование по теории процессов управления свойствами кристаллов и слоев [Текст] : монография / С. Н. Дранчук, В. А. Мокрицкий, В. Н. Романенко ; министерство просвещения Узбекской ССР. - Ташкент : [б. и.], 1987. - 56 с. ; 21.5 см. - 0.65 экз.. - 0.65 р.
ББК 6П3.2
Рубрики: Свойства кристаллов--Металлургия цветных металлов


Доп.точки доступа:
Дранчук, С.Н.; Мокрицкий, В.А.; Романенко, В.Н.; министерство просвещения Узбекской ССР
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
7.
6П2.15
Т 40

    Тилл, Уильям.
    Интегральные схемы [Текст] : материалы, приборы, изготовление / У. Тилл, Дж. Лаксон ; пер. с англ.: М. Б. Левина, В. Г. Микуцкого ; под ред. М. В. Гальперина. - Москва : Мир, 1985. - 504 с. : рис., табл. ; 22 см. - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ. : с. 496-501. - Пер. изд. : Integrated circuits : Materials, devices, and fabrication / W. Till, J. Luxon. - 24 000 экз.. - (в пер.) : 2.40 р.
    Содержание:
Технология интегральных схем
Энергетические зоны и свойства кристаллов
Фазовые диаграммы и твердые растворы
Диффузия и ионное внедрение (имплантация)
Выращивание эпитаксильных слоев и их свойства
Диод с p- n-переходом
Биполярные транзисторы
Системы металл - окисел - полупроводники
Полевые транзисторы
Литография
Изготовление интегральных схем
Изготовление гибридных схем
Присоединение, установка в корпус и испытания
Семейства цифровых логических элементов.
УДК
6П2.15
Рубрики: Микроэлектронные схемы интегральные
Дескрипторы: микроэлектроника -- печатные платы -- биполярные транзисторы -- кристаллы -- кремний -- твердые растворы -- диффузия -- эпитаксиальные слои -- полупроводники -- металлы -- полевые транзисторы -- литография -- диоды
Аннотация: В книге американских специалистов рассматриваются методы введения примесей в полупроводники, выращивание эпитаксильных пленок. Излагаются теория и свойства диодов, биполярных и полевых транзисторов. Подробно описываются процессы производства интегральных схем и их испытания.


Доп.точки доступа:
Лаксон, Джеймс; Левин, М. Б. \пер.\; Микуцкий, В. Г. \пер.\; Гальперин, Михаил Владимирович \ред.\; Till, W. ; Luxon, J.
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
8.
6П2.151
Б 28

    Батавин, Виталий Васильевич.
    Контроль параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев [Текст] : материал технической информации / В. В. Батавин. - Москва : "Советское радио", 1976. - 102 с. : ил ; 20 см. - (Массовая библиотека инженера. Электроника ; 9). - Список лит.: с. 95 - 101. - 9 000 экз.. - 0.29 р.
УДК
6П2.151
Рубрики: радиотехнические материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
полупроводники -- параметры -- измерения

~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
9.
6П2.151
Л 64

    Литовченко, Владимир Григорьевич.
    Основы физики микроэлектронных систем металл - диэлектрик - полупроводник [] : научное издание / В. Г. Литовченко, А. П. Горбань ; Акад. наук УССР, Ин-т полупроводников. - Киев : Наукова думка, 1978. - 316 с. : ил. ; 23см. - Список лит.: с. 286 - 313. - 2550 экз.. - (в пер.) : 3.30 р.
    Содержание:
Нанесение диэлектрических пленок на полупроводниковые подложки
Методы измерения параметров структур МДП
Исследование структуры и электрических свойств поверхностных диэлектрических слоев в системах ДП
Кристаллоструктура и электрические свойства границы раздела двухслойной системы диэлектрик - полупроводник
Генерационные явления и процессы переноса в структурах МДП
Влияние освещения на характеристики системы МДП. Фотоемкостный эффект
Гетерогенность электрофизических характеристик системы МДП и методы ее определения
Приборы с зарядовой связью
Приборные и интегральные системы, использующие структуры МДП и ДП
УДК
6П2.151
Рубрики: Радиоаппаратура (радиоэлектронная аппаратура)--Микроэлектронные схемы
Кл.слова (ненормированные):
МДП-структуры


Доп.точки доступа:
Горбань, Анатолий Петрович; Академия наук Украинской ССР. Институт полупроводников
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие
10.
22.3
А90

    Асваров, А. Ш.
    Механизмы синтеза и структура слоев оксида цинка [Текст] : автореферат дис. ... / А. Ш. Асваров. - Махачкала, 2006. - 18 с. ; 20см. - 100 экз.. -
ББК 22.3
Рубрики: Физика --Естественные науки

~Экземпляры всего: 2
КР (2)
Свободны: КР (2)
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-44 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)