Национальная библиотека Республики Дагестан им. Р. Гамзатова

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска

Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: <.>K=параметры интегральных схем<.>

Общее количество найденных документов : 1

6Ф2.1
Г 55

Глудкин, Олег Павлович.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия, 1980. - 360 с. : рис., табл. ; 20 см. - Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357. - 20000 экз.. - 1.00 р.

РУБ 6Ф2.1
Рубрики: Микроэлектроника--Радиовещание--Учебники для высших учебных заведений

Кл.слова (ненормированные):
надежность микроэлектроники -- параметры интегральных схем -- контроль интегральных схем -- испытания интегральных схем -- обработка экспериментальных данных -- методы прогнозирования -- радиационная стойкость -- математическое ожидание -- точность измерительных средств
Аннотация: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов.

Доп.точки доступа:
Черняев, Владимир Николаевич
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)