Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Номер ЧБ
 

Вход/Регистрация через ЕСИА

Базы данных


Каталог Национальной Библиотеки Республики Дагестан- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>S=Физика -- Полупроводники -- Энтропия миграции<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.
537
Л 22


    Ланно, Мишель.
    Точечные дефекты в полупроводниках. Теория [Text] / Мишель Ланно, Жак Бургуэн; перевод с английского Ю. М. Гальперина [и др.]. - Москва : Мир, 1984. - 264 p. : ил.a-табл. ; 21 см. - Библиография: с. 248-253. - Пер. изд. : Point defects in semiconductors J / By M. Lannoo, J. Bourgoin. - Berlin, 1981. - 2.30 р.
РУБ 537
Рубрики: Физика--Полупроводники--Энтропия миграции


Доп.точки доступа:
Бургуэн, Жак; Bourgoin J.; Гуревич, В. Л. \пер.\; Lannoo M.; Lannoo, By M. ; Bourgoin, J.
~Экземпляры всего: 1
КХР (1)
Свободны: КХР (1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)