М 54 Метод оврагов в задачах рентгеноструктурного анализа / И. М. Гельфанд, Е. Б. Вул, С. Л. Гинзбург, Ю. Г. Федоров; ответственный редактор М. Г. Нейгауз ; Академия наук СCCР. - Москва : Наука, 1966. - 76, [4] с. : ил. ; 20. - Библиогр.: с. 78. - 4000 экз.. - 0.27 р. Рубрики: Рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гельфанд, И. М.; Вул, Е. Б.; Гинзбург, С. Л.; Федоров, Ю. Г.; Нейгауз, М. Г. \ред.\; Академия наук СCCР ~Экземпляры всего: 1 КХР (1) Свободны: КХР (1) |
Р 24 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] : в 2 книгах / [Дж. Гоулдстейн и др.] ; перевод c английского Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под редакцией В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984. - 22 см. - 3400 экз.. Кн.1. - 1984. - 303 с. : ил. - 3.00 р. Рубрики: Электронная микроскопия Ренгеноспектральный анализ Рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Джозеф; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\ ~Экземпляры всего: 1 КХР (1) Свободны: КХР (1) |
В 19 Васильев, Дмитрий Михайлович. Дифракционные методы исследования структур [Текст] / Д. М. Васильев. - Москва : Металлургия, 1977. - 247 с. : ил. ; 22 см. - Библиография: с. 244-245 (39 назв.). - 3100 экз.. - (в пер.) : 2.59 р. Рубрики: Рентгеновские лучи--Дифракция Рентгеноструктурный анализ ~Экземпляры всего: 1 КХР (1) Свободны: КХР (1) |