6П2.151
Д 64


    Долматова, Т. В
    Физика надежности интегральных полупроводниковых схем [] : методы анализа причин отказа. Выпуск 3 / Т.В Долматова ; ред. Б.Е Бердичевский. - Москва : Знание, 1978. - 47 с. : ил. ; 20 см. - 1750 экз.. - 0.10 р.
УДК
Рубрики: Электроника--Интегральные схемы--Полупроводники


Доп.точки доступа:
Бердичевский, Б.Е \ред.\
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)