Л 64 Литвинов, Ю. М. Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах [Текст] / Ю. М. Литвинов, Т. И. Ольховикова, Ф. Р. Хашимов. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1976. - 33 с. : ил. ; 22см. - 1550 экз.. - 0.22 р.
Доп.точки доступа: Ольховикова, Т.И.; Хашимов, Ф.Р. ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |