К 66 Корзо, Виктор Федорович. Диэлектрические пленки в микроэлектронике [Текст] : материал технической информации / В. Ф. Корзо, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия , 1977. - 368 с. : ил. ; 21.5см. - (Электронное материаловедение). - Библиогр.: с. 344 - 365. - 7000 экз.. - (в пер.) : 1.35 р.
Кл.слова (ненормированные): пленки тонкие -- микроэлектроника Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич; Корзо, Виктор Фёдорович ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |
Г 55 Глудкин, Олег Павлович. Анализ и контроль технологических процессов производства РЭА [Текст] : учеб. пособие для студ. приборостр. спец. вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Радио и связь, 1983. - 296 с. : рис., табл. ; 22см. - Библиогр. : с. 293 (19 назв.). - 10000 экз.. - (в пер.) : 1.10 р.
Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |
Ч 49 Черняев, Владимир Николаевич. Технология производства интегральных микросхем [Текст] : учеб. пособие для вузов по спец. "Конструирование и производство радиоаппаратуры" и "Конструирование и производство электронно-вычислительной аппаратуры" / В. Н. Черняев; под ред. А. А. Васенкова. - Москва : Энергия , 1977. - 376 с. : ил. ; 21.5см. - Библиогр.: с. 364-366 (53 назв.). - 22000 экз.. - (в пер.) : 1.01 р. Содержание: Методы описания технологических процессов производства интегральных микросхем Физико-химические основы технологии интегральных микросхем Технология элементов гибридных интегральных микросхем Технология полупроводниковых интегральных микросхем Сборка интегральных микросхем
Доп.точки доступа: Васенков, А. А. \под ред.\ ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |
Г 55 Глудкин, Олег Павлович. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [Текст] : учебное пособие / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия, 1980. - 360 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 355 (19 назв.). - 20 000 экз.. - (В пер.) : 1.00 р. Содержание: Элементы теории и системы организации испытаний микроэлементов и интегральных микросхем Электрические параметры МЭ и ИМ и методы их измерения Методы неразрушающего контроля параметров МЭ и ЭМ в процессе их изготовления и испытаний Климатические испытания МЭ и ИМ Механические испытания МЭ и ИМ Радиационные испытания МЭ и ИМ Методы испытаний МЭ и ИМ на надежность и сохраняемость Методы прогнозирования надежности МЭ и ИМ Обработка экспериментальных данных Рубрики: радиоэлектронная аппаратура (РЭА)--учебные пособия радіоелектронна апаратура (РЕА)--навчальні посібники Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич ~Экземпляры всего: 1 АБ (1) Свободны: АБ (1) |