Р 39 Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов [Текст] / [В. П. Гольцев и др.] ; под ред. В. Б. Нетеренко ; Акад. наук БССР, Ин-т ядер. энергетики. - Минск : Наука и техника, 1980. - 189, [2] с. - 1.10 р.
Рубрики: Рентгеноспектральный микроанализ электронной микроскопии--Металловедение Кл.слова (ненормированные): МАТЕРИАЛЫ -- СТРУКТУРА -- СВОЙСТВА -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ Доп.точки доступа: Гольцев, Всеволод Павлинович; Дедегкаев, Тазарет Темирканович; Дергай, Александр Михайлович; Рыбников, Александр Иванович; Нетеренко, В. Б. \ред.\; Институт ядерной энергетики ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |