Г 55 Глудкин, Олег Павлович. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия, 1980. - 360 с. : рис., табл. ; 20 см. - Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357. - 20000 экз.. - 1.00 р. Рубрики: Микроэлектроника--Радиовещание--Учебники для высших учебных заведений Кл.слова (ненормированные): надежность микроэлектроники -- параметры интегральных схем -- контроль интегральных схем -- испытания интегральных схем -- обработка экспериментальных данных -- методы прогнозирования -- радиационная стойкость -- математическое ожидание -- точность измерительных средств Аннотация: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |