П 69 Практические методы в электронной микроскопии [Текст] / под ред. Одри М. Глоэра ; пер. с англ. под ред. В. Н. Верцнера. - Ленинград : Машиностроение, Ленинградское отделение, 1980. - 374 с. : рис., табл. ; 22 см. - Библиография в конце глав. - 3500 экз.. - (в пер.) : 2.10 р.
Доп.точки доступа: Одри М., Глоэра \ред.\; Верцнер, В. Н. \пер.\ ~Экземпляры всего: 1 ТО (1) Свободны: ТО (1) |
Т 38 Техника электронной микроскопии : переводное издание / под редакцией Д. Кэя, В. М. Лукьяновича ; перевод с английского С. Б. Стефанова, А. П. Захарова. - Москва : Мир, 1965. - 406 с. : ил. ; 22 см. - Библиография в конце глав. - Предметный указатель: с. 400. - Пер. изд. : Techniques for electron microscopy. - (в пер.) : 1.80 р. Рубрики: Электронная микроскопия--Сборники Физика Доп.точки доступа: Кэй, Д. \ред.\; Стефанов, С. Б. \пер.\; Захаров, А. П. \пер.\; Лукьянович, Всеволод Михайлович \ред.\ ~Экземпляры всего: 1 КХР (1) Свободны: КХР (1) |
Р 24 Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] : в 2 книгах / [Дж. Гоулдстейн и др.] ; перевод c английского Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под редакцией В. И. Петрова. - Москва : Мир, 1984. - 22 см. - 3400 экз.. Кн.1. - 1984. - 303 с. : ил. - 3.00 р. Рубрики: Электронная микроскопия Ренгеноспектральный анализ Рентгеноструктурный анализ Доп.точки доступа: Гоулдстейн, Джозеф; Ньюбери, Д.; Эчлин, П.; Джой, Д.; Фиори, Ч.; Лившин, Э.; Гвоздовер, Р. С. \пер.\; Комолова, Л. Ф. \пер.\; Петров, В. И. \ред.\ ~Экземпляры всего: 1 КХР (1) Свободны: КХР (1) |