6П2.151
С 14


    Садчиков, П. И.
    Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-математической модели. Аналитические методы системного подхода к управлению качеством изделий микроэлектроники [Текст] : в помощь слушателям семинара по надежности в прогрессивным методам контроля качества продукции / П. И. Садчиков, В. А. Абрамов. - Москва : Знание, 1979. - 105 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 106 (18 назв.). - 1 750 экз.. - 0.30 р.
УДК
Рубрики: Микроэлектроника--Физико- математические модули


Доп.точки доступа:
Абрамов, В.А.
~Экземпляры всего: 1
ТО (1)
Свободны: ТО (1)